-
島津推出全新“AP225W”半微量分析天平
島津宣布推出其“AP225W”半微量分析天平。這款產品在能夠測量高達220克物質的同時也具有最小的0.01mg的讀數。????這款天平可在大約兩秒內完成測量，并且可以在0.01mg的量級上測量到220克。使用標準附件“AP支架”，可將測量瓶或試管保持在傾斜位置。此外，將可選的“STABLO-AP”離子發生器安裝在在主機上可以迅速消除容器和樣品上的靜電，從而提
2018-08-03 5
-
日立高新發布全新肖特基場發射掃描電鏡SU7000——高通量，更快獲取各種樣品信息
7月31日，日立高新技術公司(以下簡稱“日立高新”)全球同步正式推出重磅電鏡新品——肖特基場發射掃描電鏡SU7000，它縮短了通過采集多種信號獲取樣品多種信息的時間，真正實現了高通量的觀察與分析。SU7000外觀圖 掃描電子顯微鏡(SEM)可通過檢測樣品激發出的二次電子、背散射電子、X射線等信號，獲得從微細結構到組成成分等各種信息，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生物、材
2018-08-03 12
-
【干貨】詳解TOF-MS探測器MCP的5個重要參數
MCP（微通道板）是一種平面二維探測器，可以在真空條件中探測電子、離子、真空紫外線、X射線和伽瑪射線，并能放大探測的信號。重要的特點是快速達到低于納秒的響應時間，對于飛行時間質譜（TOF-MS）來說是非常理想的探測器。濱松MCP產品在質譜應用中，樣品經過電離源生成離子，經過質量分析器后，不同荷質比（m/z，即電荷/分子量）的離子被區分開來并在真空中飛向MCP，最終被MCP所探測。MCP在TOF-M
2018-08-03 81
-
為質譜成像分析而生！這種新型離子基板的有啥不一樣？
質譜分析是通過對待測樣品進行電子束、激光等方法照射，使待測樣品的原子、分子發生離子化，通過測定質荷比，對待測樣品中包含原子、分子的種類、數量、分子結構等進行精密分析的方法。 回顧質譜分析技術的發展歷史，不難看到，新的離子化法不斷創造著質譜發展的新趨勢，讓橫跨100多年的質譜技術研究，一直充滿著活力。具有跨時代意義的離子化方法的誕生，也與質譜分析飛躍性的進步，甚至是業界的繁榮息息相關。&n
2018-08-03 7
-
第六屆全國大學生光電設計競賽“濱松杯”實物決賽圓滿結束
2018年7月26日-28日，第六屆全國大學生光電設計競賽“濱松杯”實物決賽在北京理工大學舉行。 全國大學生光電設計競賽是中國光學學會主辦的一項全國性重要賽事，是高校光電類專業的頂級賽事，旨在促進光電知識的普及，加強大學生實踐、創新能力，促進大學生對于光電科學的不斷探索與追求。 第六屆光電設計競賽以“探尋之光”為主題，分別設置了“穿透毛玻璃的可見光成像系統”和“光電尋的競技車”
2018-08-03 14
